Патенты автора — Ева И.В.
Страна - Россия (RU), количество патентов - 2, получены - 2008-2010
- G01 – Измерение
- Устройство активного контроля и измерения действительных размеров наружной поверхности изделия типа оболочка вращения
Изобретение относится к области машиностроения и приборостроения, к технике метрологического обеспечения, а именно к средствам активного контроля и измерения действительных размеров наружных поверхностей изделий типа оболочка вращения. Сущность:...
- Способ определения диэлектрической проницаемости криволинейного слоя материала и устройство для его осуществления
В способе определения диэлектрической проницаемости криволинейного слоя материала измеряют резонансные частоты на выходе диэлектрического резонатора в свободном пространстве и при расположении резонатора на фиксированном расстоянии с одной стороны от...