Патенты автора — Горлов М.И.
Страна - Россия (RU), количество патентов - 79, получены - 1996-2011
- G01 – Измерение
- H01 – Основные элементы электрического оборудования
- Способ разбраковки полупроводниковых приборов
Использование: в микроэлектронике, в области испытаний и контроля полупроводниковых приборов. Сущность изобретения: на испытуемой выборке полупроводниковых приборов измеряют шум-фактор на значениях тока до 1 мА, строят ампер-шумовые характеристики для...
- Способ неразрушающего определения содержания влаги в подкорпусном объеме интегральных схем
Использование: в микроэлектронике для диагностического контроля и отбраковки интегральных схем на этапе серийного производства, а также на входном контроле при производстве радиоаппаратуры. Сущность изобретения: способ включает охлаждение интегральной...
- Способ определения потенциально нестабильных полупроводниковых приборов
Использование: для определения потенциально нестабильных полупроводниковых приборов. Сущность заключается в том, что на партии полупроводниковых приборов, в которой необходимо определить, а затем отделить потенциально нестабильные приборы, проводят...
- Способ разделения биполярных транзисторов по стабильности обратных токов
Способ предназначен для разбраковки партии биполярных транзисторов по стабильности обратных токов (токов утечки) как на этапе производства, так и на этапе их применения. Проводят контроль начального значения обратного тока. Затем проводят испытание...
- Способ определения потенциально ненадежных транзисторов
Использование: обеспечение качества и надежности партий транзисторов за счет определения потенциальных ненадежных приборов, как на этапе производства, так и применения. Сущность: на представительной выборке транзисторов одного типа проводят измерения...
- Способ определения потенциально нестабильных полупроводниковых приборов
Использование: обеспечение качества и надежности партий полупроводниковых приборов за счет определения потенциально нестабильных приборов как на этапе производства, так и применения. Сущность: на представительной выборке полупроводниковых приборов...
- Способ выравнивания надежности при отбраковке полупроводниковых изделий
Изобретение относится к микроэлектронике. Способ включает определение партий с пониженным процентом выхода годных изделий после проведения каждой из контрольных операций. При этом проводят выявление доминирующего вида брака у изделий данной партии,...
- Способ определения потенциально ненадежных полупроводниковых приборов
Изобретение относится к электротехнике, в частности к способам определения потенциально ненадежных полупроводниковых приборов. Сущность способа заключается в том, что измерение интенсивности шумов в эксплуатационном режиме проводится до, после...
- Микроэлектронный датчик влажности поверхностно- конденсационного типа
Использование: в области производства интегральных схем (ИС) для контроля содержания паров воды в подкорпусном объеме как в процессе их производства, так и при испытаниях и на входном контроле. Сущность изобретения: микроэлектронный датчик влажности...
- Способ сравнительной оценки надежности партий транзисторов
Использование: при сравнительной оценке надежности партии приборов как на этапе производства, так и применения. Сущность изобретения: проводят испытание партий транзисторов на электростатический разряд. На выбранные приборы подают электростатические...