Патенты автора — Каберов С.Р.
Страна - Россия (RU), количество патентов - 5, получены - 2001-2003
- G01 – Измерение
- Свч-способ измерения электромагнитных параметров диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на металле и устройство для его реализации
Изобретение относится к средствам контроля состава и свойств жидких и твердых покрытий в химической, лакокрасочной и других отраслях промышленности. Согласно способу создают электромагнитное СВЧ-поле в объеме контролируемого материала и регистрируют...
- Свч-способ определения комплексной диэлектрической проницаемости и толщины диэлектрических пластин
Способ может быть использован для контроля состава и свойств материалов в процессе их производства и в эксплуатации. С помощью направленной антенны возбуждают Е-волну, падающую на диэлектрическую пластину. По минимуму поля отраженной волны определяют...
- Свч способ локализации неоднородностей в диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытиях на металле и оценка их относительной величины
Изобретение относится к способам определения неоднородностей электрофизических и геометрических параметров диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле состава и свойств твердых...
- Свч способ измерения магнитодиэлектрических параметров и толщины спиновых покрытий на металле
Изобретение относится к измерениям диэлектрической и магнитной проницаемостей, а также толщины спиновых покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле состава и свойств жидких и твердых сред в химической и других отраслях...
- Свч-способ определения диэлектрической проницаемости и толщины диэлектрических покрытий на металле
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для определения диэлектрической проницаемости и толщины слоя жидкости и твердых образцов на поверхности металла. Техническим результатом изобретения является расширение...