Патенты автора — Капустин В.И.
Страна - Россия (RU), количество патентов - 33, получены - 1994-2012
- E21 – Бурение грунта или горных пород; горное дело
- G01 – Измерение
- G03 – Фотография; кинематография; аналогичное оборудование, использующее волны иные, чем оптические; электрография; голография
- G21 – Ядерная физика, ядерная техника
- H01 – Основные элементы электрического оборудования
- Радионуклидный источник излучения для радиационной гамма-дефектоскопии
Изобретение относится к области радиоактивных источников, в частности к радионуклидным источникам гамма-излучения, и может найти применение для радиационной гамма-дефектоскопии. Заявленный радионуклидный источник излучения для радиационной...
- Способ радиационной дефектоскопии
Использование: для неразрушающего контроля объектов посредством проникающего излучения. Сущность: заключается в том, что осуществляют генерирование проникающего излучения, его фильтрацию с последующим пропусканием через объект контроля и регистрацией...
- Способ идентификации атомов и молекул
Изобретение относится к области газового анализа. Способ идентификации атомов и молекул согласно изобретению включает регистрацию пиков ионного тока на дрейф-спектрах, которую проводят по крайней мере при трех значениях амплитуды выходного напряжения...
- Система для дистанционного отбора и анализа воздушных проб
Изобретение направлено на разработку конструкции системы для дистанционного отбора и анализа воздушных проб. Система для дистанционного отбора и анализа воздушных проб содержит устройство обдува воздушной струей, включающее побудитель нагнетаемого...
- Способ оценки глубины залегания дефекта
Использование: для оценки глубины залегания дефекта. Сущность: заключается в том, что выполняют первый и второй снимки без изменения направления просвечивания при различном расстоянии от источника излучения до контролируемого изделия, после чего...
- Способ определения глубины залегания дефекта
Использование: для определения глубины залегания дефекта. Сущность: устанавливают на контролируемый участок изделия со стороны источника излучения образец-имитатор дефектов, имеющий эталонный дефект, соответствующий по размеру реальному, выявленному на...
- Способ радиографирования изделий
Использование: для радиографического контроля изделий. Сущность: заключается в том, что осуществляют повторное рентгенопросвечивание участков сварного соединения, на первоначальных рентгеновских снимках которого были выявлены сомнительного...
- Способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания
Использование: для оценки размеров дефектов в направлении просвечивания. Сущность: заключается в том, что осуществляют сравнение изображений радиографируемых на один снимок эталонных и реальных дефектов, при этом на контролируемое сварное соединение, в...
- Способ радиографического контроля с применением фосфорных запоминающих пластин
Использование: для радиографического контроля сварных соединений, наплавок и основного металла изделия. Сущность: заключается в том, что устанавливают на контролируемый объект фосфорную запоминающую пластину и проводят на нее просвечивание объекта при...
- Способ анализа органических соединений
Изобретение относится к области аналитической химии и может быть использовано для анализа и распознавания органических соединений. Для осуществления способа используют аналитическое устройство, которое содержит поверхностно-ионизационный источник ионов...