Патенты автора — Князев Б.А.
Страна - Россия (RU), количество патентов - 18, получены - 1993-2012
- A62 – Спасательная служба; противопожарные средства
- C01 – Неорганическая химия
- C02 – Обработка воды, промышленных и бытовых сточных вод или отстоя сточных вод
- C07 – Органическая химия
- G01 – Измерение
- G02 – Оптика
- Способ измерения длины распространения инфракрасных поверхностных плазмонов по реальной поверхности
Изобретение относится к области бесконтактного исследования поверхности металлов оптическими методами, а именно к способу измерения длины распространения поверхностных плазмонов, направляемых этой поверхностью. Способ включает измерение интенсивности...
- Способ определения глубины проникновения поля терагерцовых поверхностных плазмонов в окружающую среду
Изобретение относится к оптическим методам контроля поверхности металлов и полупроводников в терагерцовом диапазоне спектра и может найти применение в технологических процессах для контроля толщины и однородности тонкослойных покрытий металлизированных...
- Способ определения набега фазы монохроматической поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона
Изобретение относится к оптическим методам контроля проводящей поверхности в инфракрасном (ИК) излучении и может быть использовано в физико-химических исследованиях динамики роста переходного слоя поверхности, в технологических процессах для контроля...
- Способ управления спектром пучка широкополосного терагерцового излучения
Изобретение относится к оптике дальнего инфракрасного (ИК) и терагерцового (ТГц) диапазонов и может найти применение в установках, содержащих широкополосные источники ТГц-излучения, в ТГц плазменной и фурье-спектроскопии проводящей поверхности и тонких...
- Устройство для измерения длины распространения монохроматических поверхностных электромагнитных волн инфракрасного диапазона
Устройство содержит источник лазерного излучения, твердотельный образец с плоской поверхностью, направляющей ПЭВ, состоящий из двух частей, имеющих сопряженные поверхности, зафиксированный относительно первой части по ходу излучения элемент...
- Способ локализации неоднородностей металлической поверхности в инфракрасном излучении
Изобретение относится к оптическим методам контроля качества поверхностей металлов и полупроводников. Способ включает воздействие на поверхность зондирующим излучением, для которого металл имеет отрицательную действительную часть диэлектрической...
- Инфракрасный амплитудно-фазовый плазмонный спектрометр
Изобретение относится к инфракрасной спектроскопии поверхностей металлов и полупроводников. Спектрометр содержит перестраиваемый по частоте источник p-поляризованного монохроматического излучения, элемент преобразования излучения источника в...
- Способ преобразования монохроматического инфракрасного излучения в поверхностную электромагнитную волну
Изобретение может быть использовано в ИК-спектроскопии поверхности металлов и полупроводников, в исследованиях физико-химических процессов на поверхности твердого тела, а также в устройствах передачи и обработки информации с помощью ИК-излучения....
- Способ определения показателя преломления поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона
Изобретение относится к оптике конденсированных сред и может быть использовано для определения оптических постоянных твердых тел с отрицательной действительной частью диэлектрической проницаемости. Способ включает измерение интенсивности поверхностной...
- Способ измерения распределения величины комплексного показателя преломления сильно поглощающих образцов
Изобретение относится к спектрофотометрии и может быть использовано для исследования пространственного распределения комплексного показателя преломления по поверхности сильно поглощающих материалов. Образец размещают на плоской поверхности элемента...