Патенты автора — Лютцау А.В.
Страна - Россия (RU), количество патентов - 12, получены - 1996-2012
- G01 – Измерение
- G21 – Ядерная физика, ядерная техника
- Способ диагностики полупроводниковых эпитаксиальных гетероструктур
Изобретение относится к полупроводниковой микроэлектронике. Сущность изобретения: в способе диагностики полупроводниковых эпитаксиальных гетероструктур, включающем сканирование образца в условиях брэгговского отражения в пошаговом режиме, производимом...
- Способ структурной диагностики полупроводниковых многослойных структур (варианты)
Использование: для структурной диагностики полупроводниковых многослойных структур. Сущность заключается в том, что осуществляют сканирование образца в условиях брэгговского отражения с использованием -метода в пошаговом режиме рентгеновской...
- Способ контроля дефектности и упругой деформации в слоях полупроводниковых гетероструктур
Использование: для контроля дефектности и упругой деформации в слоях полупроводниковых гетероструктур. Сущность: заключается в том, что с помощью рентгеновской дифрактометрии при использовании скользящего первичного рентгеновского пучка получают...
- Детектирующий узел ионизирующего излучения
Предложенное изобретение относится к средствам для детектирования ионизирующего излучения, а именно к конструкции детектирующего узла для получения распределения интенсивности принимаемого ионизирующего излучения по пространственной или угловой...
- Способ определения наличия упругих деформаций в монокристаллических пластинах и устройство для его осуществления
Использование: для определения наличия упругих деформаций в монокристаллических пластинах. Сущность: заключается в том, что способ основан на воздействии на контролируемую пластину пучком рентгеновского излучения, регистрации интерференционной картины...
- Детектирующий узел для рентгеновских дифракционных измерений
Изобретение относится к области рентгеновских дифракционных измерений. Устройство содержит позиционно-чувствительный детектор и расположенную перед его окном коллимирующую систему. Его особенностью является то, что коллимирующая система выполнена в...
- Устройство для получения рентгеновского излучения повышенной яркости
Изобретение относится к средствам для получения рентгеновского излучения, в частности к средствам, предназначенным для использования при исследовании веществ, материалов или приборов. Устройство содержит источник расходящегося рентгеновского излучения...
- Способ оценки остаточного ресурса деталей
Изобретение относится к методам измерения для прогнозирования ресурса деталей на этапе их изготовления и эксплуатации. Способ оценки остаточного ресурса металлических деталей с любым исходным уровнем остаточных сжимающих и растягивающих напряжений,...
- Детектор рентгеновского излучения
Использование: при регистрации и оценке интерференционной картины дифракции рентгеновских лучей на кристаллической решетке для повышения точности измерений и сокращения времени экспозиции. Сущность изобретения: детектор рентгеновского излучения состоит...
- Рентгеновский дифрактометр
Рентгеновский дифрактометр относится к области рентгенографической аппаратуры и может быть использован при определении напряжений, текстуры и фазового состава материалов конструкций и изделий. Рентгеновский дифрактометр состоит из источника...