Патенты автора — Пятышев Е.Н.
Страна - Россия (RU), количество патентов - 2, получены - 1991-2009
- G01 – Измерение
- H01 – Основные элементы электрического оборудования
- Кантилевер для сканирующего зондового микроскопа
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а именно, к устройствам, обеспечивающим наблюдение, изменение и модификацию поверхности объектов в туннельном и атомно-силовом режимах. Кантилевер для сканирующего зондового микроскопа (СЗМ)...
- Способ изготовления интегральных схем
Использование: способ включает следующие операции: изготовление активных элементов интегральной схемы; нанесение на них слоя контрольной металлизации; определение исправных элементов, удаление контрольной металлизации; соединение межсоединений...