Патенты — Производственное республиканское унитарное предприятие "Завод полупроводниковых приборов"
Страна - Беларусь (BY), количество патентов - 6, получены - 2006-2008 , коллектив авторов - 15 человек.
- G01 – Измерение
- H01 – Основные элементы электрического оборудования
| № | Автор | Патенты |
|---|---|---|
| 1 | Плебанович Владимир Иванович | 3 |
| 2 | Сенько Сергей Федорович | 3 |
| 3 | Емельянов Виктор Андреевич | 3 |
| 4 | Белоус Анатолий Иванович | 3 |
| 5 | Дударь Наталья Леонидовна | 2 |
| 6 | Леонов Николай Иванович | 2 |
| 7 | Лемешевская Алла Михайловна | 2 |
| 8 | Котов Владимир Семенович | 2 |
| 9 | Кисель Анатолий Михайлович | 1 |
| 10 | Пономарь Владимир Николаевич | 1 |
- Высокоомный поликремниевый резистор
Изобретение относится к микроэлектронике, в частности к конструкции высокоомных поликремниевых резисторов, и может быть использовано как в качестве дискретных приборов, так и в качестве элемента при создании больших и сверхбольших интегральных схем...
- Способ изготовления высокоомного поликремниевого резистора
Изобретение относится к микроэлектронике, а более конкретно к технологии изготовления высокоомных поликремниевых резисторов, и может быть использовано в производстве поликремниевых резисторов как в качестве дискретных элементов, так и в составе...
- Способ контроля качества химической очистки поверхности полупроводниковых кремниевых пластин в растворах с рн>7
Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Сущность изобретения: способ контроля качества химической очистки поверхности полупроводниковых кремниевых...
- Способ изготовления системы металлизации кремниевых полупроводниковых приборов
Изобретение относится к области электронной техники, в частности к микроэлектронике, и может быть использовано при изготовлении кремниевых полупроводниковых приборов. Изобретение позволяет повысить качество системы металлизации за счет снижения ее...
- Способ контроля качества поверхности изделий
Изобретение относится к области электронной техники, в частности к микроэлектронике, и может быть использовано при изготовлении полупроводниковых приборов, жидкокристаллических индикаторов (ЖКИ), фотошаблонов и другой продукции. Способ контроля...
- Способ контроля механических напряжений в кремниевой структуре пленка sio2 - подложка si
Изобретение относится к электронной технике, в частности к микроэлектронике, и может быть использовано при изготовлении кристаллов ИС и дискретных полупроводниковых приборов. Техническим результатом изобретения является расширение технических...