Патент №2006792 - Устройство для измерения радиусов кривизны поверхности детали

Изобретение относится к измерительной технике в области оптического приборостроения и предназначено для измерения малых радиусов кривизны в автоматическом режиме. Цель изобретения - обеспечение возможности измерения радиусов кривизны от 15 до 40 мм. Устройство для измерения малых радиусов кривизны состоит из источника света, конденсора, коллиматора, состоящего из объектива и щелевой диафрагмы, установленной в его передней фокальной плоскости, непрозрачного экрана с одной узкой щелью, каретки, перемещающейся перпендикулярно оптической оси коллиматора при помощи электродвигателя через датчик величины перемещения, двух измерительных ветвей, состоящих из объективов и координатно-чувствительных фотоприемников, установленных в задних фокальных плоскостях объективов, блока обработки информации, блока индикации и блока цифропечати. Объектив коллиматора формирует широкий пучок параллельных лучей, из которого щель непрозрачного экрана вырезает узкий пучок параллельных лучей, который падает на контролируемую деталь и отражается от нее. При перемещении контролируемой детали перпендикулярно оптической оси изменяется расстояние от вершины детали до точки падения на нее пучка лучей и угол его отражения. При определенном расстоянии угол отражения становится равным 90и изображение щели становится симметрично линии раздела фотоприемника. С датчика величины перемещения запоминается отсчет. При дальнейшем движении детали пучок лучей переходит через вершину детали и отражается в другую сторону под углом 90к оптической оси коллиматора, строя изображение щели коллиматора симметрично линии раздела второго фотоприемника. С датчика величины перемещения запоминается отсчет. Разность отсчетов дает расстояние между падающими пучками лучей, когда они отражаются под углами 90. По известному углу и расстоянию определяется радиус кривизны контролируемой детали. 1 ил.