Патент №2008737 - Способ определения статических характеристик электронных пучков малого сечения и устройство для его осуществления

Использование: для оптимизации электронно-оптических систем при конструировании электронных приборов СВЧ с протяженными электронными пучками высокой энергии. Сущность изобретения: с целью расширения области применения, повышения разрешающей способности и точности измерения, плоскость подвижной мишени располагают под углом относительно оси электронного пучка, регистрацию оптического излучения на плоскости мишени производят при синхронном перемещении подвижной мишени с фотокамерой, а зависимость оптической плотности изображения от плотности тока пучка определяют сопоставлением интегральной интенсивности оптического излучения электронного пучка на мишени и тока пучка на мишени. Устройство содержит электронную пушку, подвижную и неподвижную мишени, фотокамеру, оптическая ось которой перпендикулярна плоскости подвижной мишени, при этом последние установлены с возможностью синхронного перемещения, а также денситометр, сопряженный с ЭВМ. 2 с. п. ф-лы, 4 ил.

Патент №2008737, изображение 1
Патент №2008737, изображение 2
Патент №2008737, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01T 1/00Измерение рентгеновского излучения, гамма-излучения, корпускулярного и космического излучений
МПК H01J 9/00Способы и устройства, специально предназначенные для изготовления электронных или газоразрядных приборов, разрядных осветительных ламп или их деталей; восстановление материала из электронных или газоразрядных приборов или ламп