Патент №2008737 - Способ определения статических характеристик электронных пучков малого сечения и устройство для его осуществления

Использование: для оптимизации электронно-оптических систем при конструировании электронных приборов СВЧ с протяженными электронными пучками высокой энергии. Сущность изобретения: с целью расширения области применения, повышения разрешающей способности и точности измерения, плоскость подвижной мишени располагают под углом относительно оси электронного пучка, регистрацию оптического излучения на плоскости мишени производят при синхронном перемещении подвижной мишени с фотокамерой, а зависимость оптической плотности изображения от плотности тока пучка определяют сопоставлением интегральной интенсивности оптического излучения электронного пучка на мишени и тока пучка на мишени. Устройство содержит электронную пушку, подвижную и неподвижную мишени, фотокамеру, оптическая ось которой перпендикулярна плоскости подвижной мишени, при этом последние установлены с возможностью синхронного перемещения, а также денситометр, сопряженный с ЭВМ. 2 с. п. ф-лы, 4 ил.