Патент №2008743 - Способ изготовления полупроводникового кристалла
Использование: изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на усовершенствование способа в части исключения потери золота, повышения технологичности и универсальности способа, повышения качества кристаллов после разделения подложки, а также повышения надежности металлизации в сквозных отверстиях. Сущность: в способе изготовления полупроводникового кристалла в качестве общего электрического контакта в процессе электрохимического осаждения толстого золота в сквозные отверстия и на металлические площадки на обратной стороне подложки используют предварительно замкнутые между собой электроды на лицевой стороне подложки с выходом на обратную сторону через металлическое дно сквозных отверстий. 2 ил.
Классификация патента
Код | Наименование |
---|---|
МПК H01L 21/00 | Способы и устройства, специально предназначенные для изготовления или обработки полупроводниковых приборов или приборов на твердом теле или их частей |