Патент №2010004 - Способ отбраковки полупроводниковых приборов

Сущность изобретения: отбраковка производится по величине изменения параметров прибора в результате последовательного воздействия импульсов греющей и термостабилизирующей мощности, причем амплитуда первого из них определяется приведенными соотношениями.

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01R 31/00Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах