Патент №2010256 - Устройство для измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов

Использование: при измерении удельного сопротивления высокоомных (до 1013 Омсм) полупроводниковых материалов. Сущность изобретения: повышение точности измерений и расширение верхней границы диапазона величины удельного сопротивления достигаются путем использования RC-генератора с мостом Вина в цепи положительной обратной связи и частотомера, подключенного к выходу RC-генератора. Последовательная RC-цепь моста Вина представляет собой конденсатор, между обкладками которого размещен измеряемый образец. 1 ил.

Патент №2010256, изображение 1

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01R 31/00Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах