Патент №2010391 - Способ определения характеристик ионно-оптических систем

Изобретение позволяет повысить чувствительность, точность и информативность способа за счет прямого измерения кардинальных элементов и аберрационных характеристик ионно-оптических систем (ИОС). Сущность изобретения. Через исследуемую ИОС пропускают зондирующий пучок долгоживущих возбужденных ионов, испускающих оптические излучения с диаметром d поперечного сечения, более чем на порядок меньшим диаметра D апертуры ИОС. Перед входом в ИОС пучок периодически смещают параллельно оптической оси (ОС) ИОС в пределах аппертуры на фиксированные расстояния r* (см) по закону см, где (t-k) - функция Дирака; t - текущее время, с; - время нахождения пучка на фиксированном расстоянии r* от ОС ИОС; k-целое число. При одновременной регистрации визуализированных траекторий зондирующего пучка получают в точках их пересечения взаимоположения кардинальных элементов. 2 ил.