Патент №2030735 - Способ получения дефектограмм при радиографическом или рентгеновском контроле сварных соединений
Сущность изобретения: способ получения дефектограмм при радиографическом контроле сварных соединений заключается в том, что совместно экспонируют рентгеновским или гамма-излучением через контролируемое изделие радиографическую пленку и усиливающий экран и проводят последующую химико-фотографическую обработку экспонированной пленки. Используют радиографическую пленку с односторонним эмульсионным слоем и одним контактирующим с ним усиливающим свинцовым экраном. Экспонирование проводят со стороны подложки пленки, причем продолжительность экспонирования устанавливают по величине оптической плотности радиограмм на участке, соответствующим гладкой стенке контролируемого изделия, достигаемой после химико-фотографической обработки экспонированной пленки значения 2,3 - 2,5 Б. 1 табл.
Классификация патента
Код | Наименование |
---|---|
МПК G01N 23/00 | Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения |