Патент №2034306 - Тестовая интегральная структура

Изобретение относится к полупроводниковым интегральным схемам. Тестовая интегральная структура содержит первую и вторую клемму для подключения напряжения питания, входные клеммы, блок идентификации, подключенный между первой и второй клеммами, первый и второй блоки защиты входов, выходы которых соединены с одноименными клеммами блока идентификации и объекта контроля, при этом блок идентификации содержит ограничитель напряжения и плавкую перемычку, а ограничитель напряжения выполнен на последовательно соединенных МОП-транзисторах, затворы которых соединены с их соответствующими стоками. 3 ил., 1 табл.