Патент №2058027 - Способ гамма-локации

Сущность изобретения: способ позволяет осуществить сканирование объектов малого и среднего атомного номера l 70 с высокой комптоновской контрастностью по электронной плотности /комптоновская гамма-локация - КГЛ/ и сканирование объектов с локальным химическим анализом содержания тяжелых / 70/ элементов /рентгенфлюоресцентная гамма-локация - РФГЛ/ при линейном разрешении 0,1-10 см. При КГЛ отраженный сигнал - результат комптоновского рассеяния квантов двухфотонной электрон-позитронной аннигиляции. При РФГЛ отраженный сигнал обусловлен фотопоглощением кванта двухфотонной аннигиляции и испусканием рентгеновского фотона, принадлежащего переходам с индексами линий 1, 2, 2, 1.. Исследуемый объект облучают узким позитронным пучком, сформированным позитронным инжектором, что создает локальную зону аннигиляции позитронов. Активность излучателя позитронов оценивается из условия предельной загрузки регистрирующего устройства по скорости счета при апертурном угле детектора 30-120 oС. Бесколлиматорные локационные свойства системы возникают в результате коррелированного разлета квантов двухфотонной аннигиляции, один из которых /опорный/ направляется непосредственно в детектор, а другой /зондирующий/ направляется в объект. В результате суммирования энергии отраженного кванта-сигнала с энергией опорного кванта сигнал переносится в энергетическую область с малым фоном. Другими /менее интенсивными/ являются отраженные сигналы релеевского рассеяния и ядерного гамма-резонансного рассеяния. В процессе сканирования объекта в памяти ЭВМ накапливают точечно-растровую информацию, которую затем обрабатывают математически и визуализуют. 1 з.п.ф-лы, 1 ил.