Патент №2059228 - Устройство дефектоскопического контроля оптически прозрачных кристаллов

Изобретение позволяет повысить точность контроля оптически прозрачных кристаллов, имеющих сложную конфигурацию. Сущность изобретения: источник 1 света создает с помощью оптической системы 2 равномерный световой поток, который, пройдя через кристалл 12, фокусируется оптической системой 3 и поступает на вход телекамеры 4. Видиосигнал, пройдя через блок 5 дифференцирования, поступает на устройство 6 обработки, где с помощью блоков 7 - 10 путем формирования соответствующих импульсов происходит подсчет перепадов освещенностей различных участков кристалла, которое для годных образцов всегда одинаково и запомнено в устройстве 11. Наличие дефекта в структуре кристалла приведет к появлению "лишних" перепадов освещенностей (импульсов в счетчике), которые позволяют отбраковать кристаллы. 2 ил.