Патент №2084940 - Способ аттестации телескопа в атмосферных условиях его эксплуатации

Использование: астрономия, для аттестации телескопов больших апертур. Сущность изобретения: способ реализуется устройством, содержащим аттестуемый телескоп 2, линзу 3, переводящую сфокусированное телескопом излучение в параллельное излучение, плоское зеркало, с помощью которого осуществляют разделение аттестующего излучения на два полупучка, соответствующих двум половинам апертур телескопа 2. Далее выделяют в каждом полупучке полупрозрачными зеркалами 5 и 6 эталонные субпучки. С помощью оптики 7 эталонные субпучки регистрируют на фотопластинах 8 N1 суммарных изображений точечного источника, а по второму полупучку и первому субпучку формируют с помощью оптики 10 и регистрируют на фотопластинах 11 N2 суммарных изображений точечного источника. Далее восстанавливают в устройствах 9, 12 карты аберрационных искажений, корректируют восстановленные карты в устройстве 13 и формируют полную карту в устройстве 14 путем сшивания скорректированных карт. Повышение точности восстановления карты аберрационных искажений телескопа обеспечивается за счет повышения степени когерентной и аттестующего и эталонного пучков.1 ил.