Патент №2094783 - Способ определения поверхностного сопротивления высокопроводящих материалов

Способ позволяет достаточно просто проводить измерение поверхностного сопротивления (вещественной части комплексного поверхностного импеданса) высокопроводящих образцов, в том числе образцов сверхпроводящих, в диапазоне СВЧ и обладает универсальностью по отношению к форме образца. В отличии от известных аналогичных способов простота достигается измерением только коэффициента стоячей волны в волноводе, связанном с измерительным резонатором, с помощью современного панорамного измерительного прибора. Предварительная калибровка проводится с применением двух эталонных образцов с известным поверхностным сопротивлением той же геометрической формы и размеров, что и исследуемый образец. Для исследования материалов с высокотемпературной сверхпроводимостью хорошо подходят эталонные образцы из меди и свинца. Существенных ограничений на форму исследуемых образцов нет, но более удобны образцы правильной геометрической формы с точки зрения просторы изготовления эталонных образцов. Минимальная площадь поверхности образцов в 3-х сантиметровом диапазоне около 5 см2, на других частотах она прямо пропорциональна длине в свободном пространстве. Принципиальной стороной способа является доказанная возможность установления связи между коэффициентом стоячей волны и поверхностным сопротивлением независимо от структуры поля рабочего типа колебаний измерительного резонатора и добротности, если последняя достаточно высока. Четко определено само понятие поверхностного сопротивления, которое подлежит измерению и является общепризнанным. Разработанный способ наиболее удобен для измерения поверхностного сопротивления на СВЧ вновь разрабатываемых сверхпроводящих материалов. 1 ил., 1 табл.