Патент №2103673 - Способ определения диэлектрической проницаемости материала
Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия. Целью изобретения является разработка более технологичного способа определения относительной диэлектрической проницаемости исследуемого материала без разрушающего воздействия и достижения более высокой точности за счет учета удельной проводимости материала. Способ включает возбуждение электромагнитных колебаний в микрополосковой линии с известными параметрами комплексной диэлектрической проницаемости, измерение ее импеданса в режимах холостого хода и короткого замыкания при размещении микрополосковой линии на поверхности исследуемого образца материала и при отсутствии исследуемого образца и вычисление диэлектрической проницаемости исследуемого образца материала. 1 з.п. ф-лы, 6 ил.
Классификация патента
Код | Наименование |
---|---|
МПК G01N 22/00 | Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот |
МПК G01R 27/00 | Устройства для измерения активного, реактивного и полного сопротивления или электрических характеристик, производных от них |