Патент №2110766 - Устройство для измерения деформаций при повышенных температурах

Устройство предназначено для измерения деформаций конструкций летательных аппаратов при испытаниях на прочность в условиях повышенных температур. Устройство состоит из упругой подложки, выполненной из пластины термостойкого неметаллического материала, выгнутой в виде двухопорной арки. На внешней и внутренней поверхностях подложки наклеены два или четыре термостойких тензорезистора, соединенных по схеме измерительного полумоста или моста. Концы упругой подложки шарнирно оперты на узлы крепления, установленные в съемной монтажной рамке, выполненной из материала упругой подложки. Упругая подложка может быть выполнена из кварцевого стекла или термостойкой керамики. 2 з.п. ф-лы, 3 ил.