Патент №2124223 - Интерференционное покрытие

Покрытие состоит из чередующихся слоев с низким значением показателя преломления из фторида магния и с высоким показателем преломления из материала, прозрачного в ИК-области и имеющего показатель преломления не менее 2,2 и сжимающие напряжения в слое. В середину слоев MgF2 введена прослойка из двуокиси кремния. Прослойка составляет 0,2-0,5 оптической толщины слоя MgF2 за счет соответствующего уменьшения его толщины. Слои с высоким показателем преломления могут быть выполнены из сульфида цинка, или селенида цинка, или сульфида сурьмы, или сульфида мышьяка, или селенида мышьяка. На внешний слой из материала с высоким показателем преломления может быть нанесен защитный полуволновой слой с низким показателем преломления. Защитный слой состоит из четвертьволнового слоя MgF2 с прослойкой SiO2 и четвертьволнового слоя SiO2. Обеспечивается расширение длинноволновой области применения и улучшения эксплуатационных характеристик. 2 з.п.ф-лы, 1 ил.