Патент №2164338 - Способ калибровки системы координат в рабочей зоне координатно-измерительной машины и устройство для его осуществления

Изобретение относится к измерительной технике. Преимущественная область применения - прецизионная поверка (калибровка) координатно-измерительных машин (КИМ) оптического типа. Заявлен способ калибровки системы координат в рабочей зоне координатно-измерительных машин КИМ. Способ заключается в определении геометрических параметров взаимного расположения базовых элементов конструкции машины с помощью двухшарового эталона, закрепленного на столе КИМ. Закрепляющее устройство позволяет расположить 1-й шар эталона неподвижно относительно стола машины, а 2-й шар - с возможностью перемещения в зависимости от изменения направления стержня. Геометрические параметры рассчитывают по результатам данных, полученных следующим образом. Фиксируют эталон относительно стола КИМ, измеряют координаты точек поверхности второго шара. Изменяют направление эталона для освобождения доступа к первому шару, измеряют координаты точек первого шара. Несколько раз изменяют положение устройства с эталоном на столе машины или ориентацию эталона в устройстве. Заявлено устройство для реализации способа калибровки системы координат в рабочей зоне КИМ. Устройство содержит двухшаровой эталон в виде двух шаров, жестко соединенных между собой стержнем из материала с низким значением коэффициента линейного расширения; гнездо для размещения одного из шаров; дополнительно содержит приспособление для закрепления эталона, включающее основание для фиксации на столе КИМ, жестко связанное с гнездом для размещения одного из шаров; оправку, связанную с основанием для фиксации положения стержня со вторым шаром в различных положениях. Техническим результатом данного изобретения является обеспечение возможности калибровки для уменьшения погрешности измерений. 2 с. и 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

Патент №2164338, изображение 1
Патент №2164338, изображение 2

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01B 11/00Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения