Патент №2168747 - Способ определения параметров ионосферы земли и устройство для его осуществления

Изобретение относится к области геофизики и космической физики и может быть использовано для измерения электрических полей в ионосфере Земли с помощью научной аппаратуры, установленной на борту космического аппарата (КА). Особенно целесообразно использование изобретения для определения с высокой точностью в реальном масштабе времени напряженности электрического поля в ионосфере Земли с целью оперативного прогнозирования землетрясений, цунами и других катаклизмов естественного и искусственного происхождения. Сущность изобретения: инжектируют импульсный электронный пучок и сканируют его в плоскости П, проходящей через вектор квазипостоянного магнитного поля Земли и геометрическую ось инжектора, определяют направление инжекции, при котором достигается максимум интенсивности электронов, принимаемых детектором. Затем инжектируют импульсный ионный пучок, сканируют его в плоскости П и определяют направление инжекции ионного пучка, в котором достигается максимум интенсивности ионов. Определяют угол между векторами и на основании этого вычисляют величину постоянной Еzo соответствующей напряженности электрического поля в направлении вектора Устройство содержит инжекторы и детекторы ионов и электронов, систему определения вектора индукции локального магнитного поля Земли систему определения вектора орбитальной скорости системы сканирования ионов и электронов, блоки формирования команд на включение и выключение электронных и ионных систем, анализаторы максимума интенсивности детектируемого пучка ионов и электронов системы контроля инжектируемых ионного и электронного пучков, блок обработки и анализа информации и выдачи результатов, запоминающее устройство (ЗУ) вектора геометрической оси инжектора электронов, блок определения - составляющей орбитальной скорости на плоскость блок определения угла между векторами блок памяти требуемых углов o o, o o и сравнения их соответственно с углами и . Технический результат - определение Еzo, 2 с. и 1 з.п.ф-лы, 2 ил., 4 табл.

Патент №2168747, изображение 1
Патент №2168747, изображение 2
Патент №2168747, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01R 29/00Устройства для измерения или индикации электрических величин, не отнесенные к группам 19/00
МПК G01V 3/00Разведка или обнаружение с помощью электрических или магнитных средств; измерение характеристик магнитного поля Земли, например магнитного склонения, девиации