Патент №2170421 - Способ количественного определения химического состава вещества и энергий связи остовных электронов

Изобретение относится к области анализа материалов с помощью рентгеновского излучения и может быть использовано для неразрушающего анализа химического состава многокомпонентных материалов и определения энергии связи остовного уровня атома, находящегося в определенном химическом состоянии. Для этого в известном способе, включающем измерение линии фотоэлектронного спектра по меньшей мере одного элемента, разложение ее по известному набору элементарных составляющих, соответствующих различным химическим фазам, и известной последовательности энергий связи остовного электрона выбранного элемента в этих фазах, минимизацию функционала ошибок между измеренной линией спектра и суммарной расчетной огибающей набора элементарных составляющих с выбором их амплитуд и ширины в качестве свободных параметров и определение искомого состава по относительному вкладу этих составляющих в разлагаемую линию спектра с учетом стехиометрии химических фаз согласно формуле изобретения, вышеупомянутые операции производят для каждой линии двух или более выбранных элементов, дополнительно выбирая в качестве свободных параметров энергии связи элементов в химич. фазах и, сравнивая полученные для всех линий спектра результаты между собой, варьируют свободными параметрами до совпадения результатов с учетом заданной ошибки. Техническим результатом изобретения является возможность без использования эталонов определять с высокой точностью не только химический состав сложных соединений, но и энергий связи элементов. 6 ил., 2 табл.