Патент №2198383 - Способ измерения фотометрических характеристик материалов

Изобретение относится к области измерения фотометрических характеристик материалов, таких как коэффициенты отражения, пропускания, рассеяния и др. Материалы могут быть как оптические, так и конструкционные, а также природные, такие как почвы, растения и пр. Характеристики измеряются в различных участках спектра оптического диапазона длин волн. Сущность изобретения: в импульсном фотометре используется лампа накаливания и подбирается безопасный способ ее включения, например, такой, в котором ток через лампу в любой момент не превосходит максимально допустимое для данной лампы значение. Такой режим обеспечивается микропроцессорным устройством. Это же устройство синхронизирует момент включения лампы и момент измерения сигналов в фотометре, т.е. обеспечивает оптимальный момент измерения. Изобретение обеспечивает хорошую долговечность лампы накаливания, хорошие спектральные характеристики импульсного источника излучения и позволяет получить все преимущества импульсного режима работы фотометра.