Патент №2242769 - Устройство для измерения эллиптичности электромагнитной волны

Изобретение относится к технике СВЧ и может быть использовано для измерения поляризационных характеристик волноводных устройств. Техническим результатом заявляемого изобретения является упрощение конструкции устройства для измерения эллиптичности электромагнитной волны, процесса измерения эллиптичности электромагнитной волны волноводных устройств и повышение точности измерений. Устройство для измерения эллиптичности электромагнитной волны содержит измеряемый элемент, разделитель поляризации, вход которого подключен к выходу измеряемого элемента, и два канала, включающих первый вентиль и второй вентиль, причем первый выход разделителя поляризации соединен с входом первого вентиля, а второй выход разделителя поляризации соединен с входом второго вентиля. Разделитель поляризации выполнен в виде двухканального поляризационного устройства. Устройство снабжено первым аттенюатором, вход которого подключен к выходу первого вентиля, вторым аттенюатором, вход которого подключен к выходу второго вентиля, коммутатором, первый вход которого подключен к выходу первого аттенюатора, а второй вход подключен к выходу второго аттенюатора, а также блоком измерения, вход которого подключен к выходу коммутатора. 1 ил.