Патент №2255344 - Способ определения диэлектрических характеристик поликристаллических материалов, в частности ферритов

Использование: в контрольно-измерительной технике. Изобретение направлено на повышение точности определения диэлектрических характеристик поликристаллических материалов: величин действительной ’ и мнимой и ’’ частей диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь tg материала образца. Сущность: способ определения диэлектрических характеристик поликристаллических материалов включает нанесение на поверхность образца вокруг одного из измерительных электродов охранного электрода, который при проведении электрических измерений заземляют. Нанесение поверх тонкопленочных измерительных электродов токопроводящей пасты. Проведение во время нагрева образца измерений величин емкости и проводимости на трех-пяти фиксированных частотах измерительного сигнала. Определение по результатам этих измерений для каждой частоты измерительного сигнала характеристических параметров материала. Определение для совокупности значений частот измерительного сигнала средних значений этих параметров. Определение с их использованием величин ’, ’’, tg для произвольных температуры и частоты измерительного сигнала. 3 ил., 1 табл.

Патент №2255344, изображение 1
Патент №2255344, изображение 2
Патент №2255344, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01N 27/02Исследование или анализ материалов с помощью электрических, электрохимических или магнитных средств - измерением полного сопротивления материалов
МПК G01R 27/26Устройства для измерения активного, реактивного и полного сопротивления или электрических характеристик, производных от них - для измерения индуктивности и(или) емкости; для измерения добротности, например резонансным способом; для измерения коэффициента потерь; для измерения диэлектрических постоянных