Патент №2256878 - Способ измерения формы объекта и устройство для его осуществления

Способ измерения формы объекта включает формирование на поверхности объекта с помощью светоизлучающей системы световой линии, лежащей в заданном сечении объекта, получение изображения световой линии, его обработку и определение координат профиля сечения объекта. При этом формируют совпадающие на поверхности световые линии поочередно с помощью двух светоизлучающих систем, освещающих поверхность в заданном сечении объекта под разными углами в каждой ее точке, получают изображения световых линий, на каждом из них выявляют неискаженные участки, из изображений указанных участков компилируют результирующее изображение, по которому осуществляют определение координат профиля сечения объекта. Устройство для измерения формы объекта содержит светоизлучающую систему, оптически связанную с фотоприемником, и вычислительный блок. Также содержит одну дополнительную светоизлучающую систему, оптически связанную с фотоприемником, и блок коммутации, подключенный входом к вычислительному блоку, а выходом - к каждой светоизлучающей системе, оптические оси светоизлучающих систем размещены в одной плоскости и расположены друг к другу под углом, равным 5-80°. Технический результат - повышение точности измерения путем исключения влияния зоны искажения на результаты измерений. 2 н. и 11 з.п. ф-лы, 5 ил.

Патент №2256878, изображение 1
Патент №2256878, изображение 2
Патент №2256878, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01B 11/24Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения - для измерения контуров или кривых
МПК G01B 21/20Приспособления или их детали к измерительным устройствам, не относящиеся к конкретному типу измерительных устройств, упомянутым в других группах данного подкласса - для измерения контуров или кривых, например для измерения профилей сечений