Патент №2279667 - Способ определения глубины залегания малоконтрастного дефекта при радиографическом контроле

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов. Способ заключается в том, что выполняют первоначальный снимок, на котором выявлен дефект, устанавливают свинцовые маркировочные знаки на контролируемом объекте со стороны пленки, выполняют два снимка со смещением источника излучения с той же экспозицией, что и первоначальный снимок, прокалывают отверстия в пленках в местах изображения свинцовых меток и дефекта, на негатоскопе совмещают пленки по светящимся отверстиям в местах изображения свинцовых меток, измеряют смещение изображения дефекта по светящимся отверстиям в местах изображения дефекта и рассчитывают глубину залегания дефекта. Техническим результатом изобретения является обеспечение возможности определения глубины залегания малоконтрастного дефекта. 4 ил.