Патент №2301992 - Способ определения показателей безотказности изделия по результатам неразрушающего контроля

Изобретение относится к области исследования физических свойств материалов и обеспечения контроля за состоянием технических объектов, находящихся под действием механических и/или термомеханических нагрузок в среде, характеризуемой определенной температурой и химическим составом. Техническим результатом от применения изобретения является то, что показатели безотказности изделия по критериям дефектности, течи или разрушения определяют до начала эксплуатации без предварительных испытаний или без предварительной эксплуатации изделия. Сущность изобретения состоит в том, что числа отказавших изделий, функции плотности распределения наработки до отказа и интенсивность отказов определяют по критериям дефектности, или течи, или разрушения до начала эксплуатации без предварительных испытаний или без предварительной эксплуатации изделия (или группы одинаковых изделий); при этом показатели безотказности определяют по результатам неразрушающего контроля (НК) изделия, характеристикам достоверности использованного метода НК и скорости роста вероятных дефектов за время t. 2 з.п. ф-лы, 5 ил.

Патент №2301992, изображение 1
Патент №2301992, изображение 2
Патент №2301992, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01N 23/02Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения - путем пропускания излучений через материал
МПК G01N 23/18Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения - обнаружение локальных дефектов или вкраплений 23/09 имеет преимущество
МПК G01N 29/04Исследование или анализ материалов с помощью ультразвуковых, звуковых или инфразвуковых волн; визуализация внутреннего строения объектов путем пропускания через них ультразвуковых или звуковых волн через предметы - анализ твердых телс использованием акустической эмиссии 29/14