Патент №2354017 - Способ электронного сканирования луча фазированной антенной решетки

Изобретение может быть использовано в фазированных антенных решетках для перемещения луча в секторе сканирования. Электронное сканирование луча фазированной антенной решетки осуществляется последовательным перемещением луча между двумя фиксированными угловыми направлениями в пространстве путем изменения с помощью фазовращателей фазового распределения сигналов на излучателях. При этом вычисляют начальное фазовое распределение луча и выставляют луч в начальное угловое положение. Затем вычисляют фазовое распределение конечного положения луча путем определения значения фазы для каждого излучателя, запоминают его, распределяют излучатели на N подрешеток, причем N выбирают из условия , гдеТ - задаваемое для фазированной антенной решетки время одного цикла работы; - временной интервал перефазировки каждой подрешетки излучателей. Далее осуществляют перефазирование подрешеток излучателей в любой последовательности в соответствии с запомненными значениями фазы для каждого излучателя подрешетки, а начало перефазирования следующей подрешетки осуществляют по завершении перефазирования предыдущей. Технический результат - обеспечение плавного перемещения луча фазированной антенной решетки с любым типом фазовращателей и повышение точности реализации фазового распределения.