Патент №2373650 - Способ контроля состояния многопараметрического объекта

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для контроля и анализа состояния сложных многопараметрических объектов, являющихся элементами систем связи и автоматизации. Техническим результатом является повышение оперативности и точности оценки состояния многопараметрического объекта. Результат достигается распознаванием аномального изменения характеристик состояния одного из совокупности идентичных элементов многопараметрического объекта в процессе его функционирования путем задания стандартных значений и допустимых отклонений характеристик состояния элементов многопараметрического объекта, измерения текущих значений контролируемых параметров, вычисления текущих значений характеристик состояния элементов многопараметрического объекта и сравнения их с заданными стандартными значениями и допустимыми отклонениями. 3 ил.

Патент №2373650, изображение 1
Патент №2373650, изображение 2
Патент №2373650, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК H04B 17/02Контроль; испытание - радиорелейных систем