Патент №2393505 - Способ определения распределения плотности потока электронов по его сечению

Изобретение относится к способам измерения параметров направленного излучения, включая измерение таких характеристик потоков заряженных частиц, как их пространственное распределение по плотности и дозам с помощью люминесцентных детекторов ионизирующих излучений. Технический результат - расширение возможностей исследований, создания и контроля ускорительной техники, изделий сильноточной электроники. Способ определения распределения плотности потока электронов по его сечению путем размещения на пути электронного потока люминофора-мишени с длительным послесвечением включает облучение ее электронным потоком, получение на ее поверхности люминесцентного изображения сечения электронного потока и определение по нему распределения плотности потока электронов по его сечению, при этом в качестве материала люминофора-мишени выбирают наноструктурную керамику на основе Be2(Si0,8Ge0,2 )O4, a распределение плотности потока электронов по его сечению определяют количественно по люминесцентному изображению сечения электронного потока, преобразованному из аналоговой формы в цифровую. 4 з.п. ф-лы, 4 ил.

Патент №2393505, изображение 1
Патент №2393505, изображение 2
Патент №2393505, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК B82B 1/00Наноструктуры
МПК G01T 1/29Измерение рентгеновского излучения, гамма-излучения, корпускулярного и космического излучений - измерение направленного излучения, например для определения положения или сечения луча; измерение пространственного распределения радиациисцинтиграфия 1/164; масс-спектрометры H 01J 49/00