Патент №2400778 - Способ профилирования донных отложений

Способ профилирования донных отложений относится к области геофизики и гидроакустики и может быть использован для изучения структуры донных отложений в шельфовой зоне мирового океана, а также для изучения особенностей распространения звука в придонном слое мелкого моря. Техническим результатом изобретения является увеличение глубины профилирования донных отложений при сохранении высокой разрешающей способности. Способ профилирования донных отложений включает установку приемоизлучающей антенны профилографа на буксируемое устройство и его буксировку над дном, излучение импульсного акустического фазоманипулированного сигнала, модулируемого М-последовательностью, прием отраженного сигнала, его корреляционную обработку с копией излученного акустического фазоманипулированного сигнала. При этом антенну профилографа буксируют над дном так, чтобы ее высота h над дном и предполагаемая глубина профилирования Н были связаны соотношением h=Н/c 12, где с12=с1/c2, с 1, c2 - скорость звука в воде и в осадочном слое морского дна соответственно, а полная ширина характеристики направленности антенны профилографа в вертикальной плоскости на уровне 3 дБ равнялась двойному критическому углу 0,7=2 кр, кр=arcsin(с12). Затем выполняют графическое построение профиля донных отложений по времени задержки отраженного сигнала. 3 ил.