Патент №2411507 - Устройство для определения содержания элементов в приповерхностном слое образца

Использование: для определения содержания элементов в приповерхностном слое образца. Сущность заключается в том, что устройство для определения содержания элементов в приповерхностном слое образца включает источник нейтронов, вакуумированную измерительную камеру с входным нейтроноводом и расположенным в ней облучаемым образцом, детектор гамма-излучения, расположенный вне измерительной камеры, при этом источник нейтронов представляет собой источник ультрахолодных нейтронов (УХН), измерительная камера соединена с промежуточной камерой и снабжена выходным нейтроноводом, сединенным с детектором УХН, во входном нейтроноводе установлена поворотная заслонка, проходное сечение промежуточной камеры перекрыто выходным вакуумным шибером, установленным на штоке с возможностью перемещения, а облучаемый образец закреплен на штоке с возможностью перемещения из промежуточной камеры в измерительную. Технический результат: расширение номенклатуры исследуемых образцов, а также повышение достоверности определения содержания элементов в образце. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.

Патент №2411507, изображение 1
Патент №2411507, изображение 2
Патент №2411507, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК G01N 23/222Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения - с использованием нейтронов