Патент №2417349 - Способ измерения относительных деформаций конструкций многоточечной тензометрической измерительной системой

Изобретение относится к измерительной технике и может применяться при экспериментальных исследованиях напряженно-деформированного состояния конструкций. Сущность: тензорезисторы подсоединяют к кабелям датчиков по двухпроводной или четырехпроводной схеме, а кабели датчиков подсоединяют к разъемам коммутатора по четырехпроводной схеме. Калибруют измерительную систему на каждом цикле опроса тензорезисторов по приращению сопротивления тензокалибратора относительно величины номинального сопротивления тензорезисторов. Находят зависимость приращения сопротивления тензорезистора от коэффициентов функции преобразования измерительной системы и величины измеренного сигнала в кодах. Определяют для каждого тензорезистора на каждом этапе нагружения конструкции величину приращения сопротивления относительно величины номинального сопротивления и вычисляют величину относительной деформации конструкции. Технический результат: повышение точности измерения при различном подсоединении с использованием одной и той же измерительной системы, использование однотипного оборудования для калибровки измерительной системы. 1 ил.