Патент №2422838 - Способ и устройство измерения параметров многоэлементных двухполюсников

Изобретение относится к измерительной технике и, в частности, к технике измерения параметров многоэлементных пассивных двухполюсников. Измерение параметров пассивных многоэлементных двухполюсников осуществляется при питании измерительной цепи, содержащей образцовый одноэлементный двухполюсник и включенный последовательно с ним объект измерения, импульсами напряжения, изменяющегося по закону функции N-й степени времени, путем N-кратного дифференцирования напряжения питающих импульсов и напряжения на многоэлементном двухполюснике, измерения в момент окончания импульса значений напряжения питающего импульса и напряжения на измеряемом двухполюснике, а также напряжений на выходах дифференцирующих каскадов в обоих каналах, вычисления частных от деления величин, измеренных в соответствующих точках обоих дифференциаторов, определения обобщенных параметров измеряемого многоэлементного двухполюсника и вычисления электрических параметров его элементов. Также заявлено устройство, реализующее данный способ. Технический результат заключается в повышении точности измерений. 2 н.п. ф-лы, 5 ил.