Патент №2444741 - Способ испытания безотказности устройства

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для испытания безотказности электронных и иных устройств, модель отказов которых соответствует экспоненциальному закону. Согласно изобретению испытывают устройство, для которого известны начальное R1 и конечное R0 значения контролируемого параметра и среднее время наработки до отказа Tcp. Испытание устройства проводят в течение заданной суммарной длительности T0 испытания, которая, по крайней мере, на порядок меньше среднего времени наработки до отказа Tcp устройства. Измеряют значение контролируемого параметра Rизм(T0) в момент наступления заданной суммарной длительности испытания и сравнивают его с граничным значением Rгр(T0) контролируемого параметра, рассчитанным согласно выражению: Предложенный способ значительно сокращает продолжительность испытания устройства при одновременном повышении достоверности данных о его безотказности. 4 з.п. ф-лы, 2 ил.