Патент №2451962 - Способ измерения временного интервала

Изобретение относится к области электронного приборостроения и может быть использовано в импульсной локации, в экспериментальной физике, а также других областях техники, где требуется точное измерение временных интервалов. Изобретение направлено на повышение точности измерения временного интервала стандартными аппаратными средствами, что обеспечивается за счет того, что при измерении временного интервала Т осуществляют формирование последовательности тактовых импульсов с периодом , синхронизированной с началом измеряемого интервала, формирование в конце интервала задержанного сигнального импульса известной формы, счет количества N тактовых импульсов между началом интервала и моментом регистрации задержанного импульса, формирование поправки N и определения интервала Т по формуле T= (N+ N). При этом длительность Ти сигнального импульса устанавливают более двух тактовых периодов , незадержанный сигнальный импульс предварительно оцифровывают с периодом и сохраняют результаты оцифровки в W 3 массивах {S1i}w, где i=1, 2, , I - порядковый номер выборки в массиве, w - порядковый номер массива, I>2 - количество выборок, в процессе оцифровки в каждом массиве {S1i}w, берут выборки незадержанного импульса в отсчитываемые от его начала моменты времени tiw=(w-1) /W+(i-1)· , а начало его оцифровки задают таким образом, чтобы выборка с максимальным значением имела во всех массивах одинаковый порядковый номер, причем в набор выборочных значений массивов {S1i }w включают выборку с максимальным значением и по крайней мере по одной выборке слева и справа от нее, в процессе измерения временного интервала задержанный сигнальный импульс оцифровывают с привязкой к тактовой последовательности, формируя массив {S2i}, при этом массивы {S1i} w и {S2i} формируют с одинаковым количеством выборок I в каждом массиве так, чтобы максимальная выборка в массиве {Si;} находилась в той же позиции, что и в массивах {S1i}w, после чего формируют W оценок Rw=R({S1i}w, {S2i }), характеризующих близость массивов {S1i}w и {S2i}, например, в виде суммарного абсолютного отклонения , определяют порядковый номер w*, при котором оценка R w в наибольшей степени характеризует близость массивов {S1i}w и {S2i}, и формируют поправку N по формуле N=(w*-1)/W. Массивы {S1i}w и {S 2i} можно нормировать так, чтобы их максимальные выборки имели одинаковое значение. Для еще большего повышения точности можно формировать дополнительную поправку Nк, определяемую предварительно путем измерения эталонного интервала времени. 2 з.п. ф-лы, 4 ил., 4 табл.

Патент №2451962, изображение 1
Патент №2451962, изображение 2
Патент №2451962, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК G04F 10/04Электронные устройства для измерения неизвестных интервалов времени - с использованием счетных импульсов или полупериодов переменного тока