Патент №2475722 - Способ идентификации материала в насыпном виде и устройство для его осуществления

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для идентификации материалов в насыпном виде и экспресс-контроля микромеханических, реологических и микро-электромеханических характеристик продукции, их стабильности на разных стадиях производства продукта и отклонений от эталонных образцов. Сущность: подводят наконечник зонда к исследуемому материалу, прикладывают увеличивающуюся нагрузку к зонду и с помощью преобразователя измеряют величину прикладываемой нагрузки и глубину проникновения зонда в этой точке. Исследуемый материал в насыпном виде помещают в ячейку в виде цилиндрического гнезда и воздействуют на материал зондом в виде штока с плоским торцом. Величину нагрузки при этом программируют и передают через контроллер на измерительно-силовую головку, включающую микронагружающее устройство, и измеряют глубину погружения прецизионным оптическим датчиком локальных деформаций и передают на компьютер первичные данные испытаний. Прибор содержит корпус, нагружающее устройство, соединенное с устройством его подвода к исследуемому материалу, датчик величины нагружения для непрерывного измерения вариации силы нагружения, прилагаемого к держателю зонда, датчик смещения для непрерывного измерения вариации глубины погружения зонда в материал и компьютер. Нагружающее устройство выполнено в виде силовой ячейки и прецизионного оптического датчика измерения локальных деформаций образца. Прибор дополнительно содержит контроллер для управления, сбора и обработки потоков данных, снабженный программным управлением величиной силы. Зонд выполнен в виде цилиндрического штока с плоским торцом и установлен над ячейкой с образцом. Ячейка содержит контакты для измерения электрического сопротивления. Технический результат: увеличение разрешения по отношению к физико-механическим свойствам насыпных нанопорошковых материалов и увеличение контролируемых параметров и свойств. 2 н. и 1 з.п. ф-лы, 4 ил.

Патент №2475722, изображение 1
Патент №2475722, изображение 2
Патент №2475722, изображение 3

Классификация патента

Код Наименование
МПК B82Y 35/00Способы или устройства для измерения или анализа нано-структур
МПК G01N 19/00Исследование материалов механическими способами