Патент №2484446 - Способ подготовки образцов биопленок микроорганизмов для исследования в сканирующем электронном микроскопе

Изобретение относится к способу подготовки образцов биопленок микроорганизмов для исследования в сканирующем электронном микроскопе. Способ включает фиксацию, промывку и обезвоживание, пропитку в камфене и высушивание при комнатной температуре. Перед фиксацией образца микроорганизмы культивировали на поверхности стерилизованной ячейки ячейковой упаковки с перфорациями по всему диаметру ячейки, погруженной в питательную среду. Образец с микроорганизмами фиксировали в течение 24 часов в смеси растворов параформальдегида и глутаральдегида на фосфатном буфере, pH 7,4, при температуре 4°С, а затем промывали в фосфатном буфере 20 минут и в дистиллированной воде 6 мин. После образец поэтапно обезвоживали в 70% 15 минут и по 10 минут в 80%, 96% и 100% этиловом спирте, пропитывали в камфене при t=60°C в течение 20 минут. Далее образцы высушивали на воздухе до полной возгонки камфена при комнатной температуре. Достигаемый при этом технический результат заключается в предотвращении деформации клеток и микрорельефа клеточной поверхности бактерий, а также пространственной структуры микропленок микроорганизмов и внеклеточного полимерного матрикса в процессе высушивания. 3 ил.