Патент №2488099 - Способ рентгеноструктурного контроля детали
Использование: для рентгеноструктурного контроля детали. Сущность: заключается в том, что осуществляют снятие рентгенограммы с контролируемой детали, выполняют определение параметра, зависящего от наработки детали, при этом снятие рентгенограммы с контролируемой детали на предполагаемой поверхности разрушения происходит от отражающей плоскости (11.0) без фона при использовании титанового излучения Ti-K и от отражающей плоскости (01.3) без фона при использовании титанового излучения Ti-K , при этом в качестве параметра, зависящего от наработки, используют интегрированный структурный параметр , определяемый как произведение параметра ширины В дифракционной линии без фона и параметра профиля Р дифракционной линии без фона: =В·Р, причем деталь является годной, если интегрированный структурный параметр будет больше 1: >1. Технический результат: сокращение времени контроля детали, как в процессе эксплуатации, так и на этапе ресурсных испытаний детали, а также мобильность процесса. 2 з.п. ф-лы, 2 табл., 10 ил.
Классификация патента
Код | Наименование |
---|---|
МПК G01N 23/20 | Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения - с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения |