Патент №2504793 - Способ определения теплового импеданса цифровых кмоп интегральных микросхем
Изобретение предназначено для использования на выходном и входном контроле качества цифровых КМОП интегральных микросхем и оценки их температурных запасов. Сущность: на входы одного или нескольких логических элементов контролируемой микросхемы подают последовательность высокочастотных переключающих греющих импульсов частотой Fгр, модулированных последовательностью прямоугольных видеоимпульсов с постоянным периодом следования Тсл, длительность р которых изменяется по гармоническому закону с частотой М. На частоте модуляции М выделяют и измеряют амплитуду первой гармоники тока, потребляемого контролируемой микросхемой, амплитуду первой гармоники температурочувствительного параметра - выходного напряжения логической единицы того логического элемента, состояние которого не изменяется, и сдвиг фазы ( М) между первой гармоникой тока, потребляемого контролируемой микросхемой, и первой гармоникой температурочувствительного параметра. По измеренным величинам определяют модуль и фазу теплового импеданса контролируемой микросхемы на частоте М. Технический результат: повышение точности измерения. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.
Классификация патента
| Код | Наименование |
|---|---|
| МПК G01R 31/28 | Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах - испытание электронных схем, например с помощью прибора для каскадной проверки прохождения сигналаиспытание на короткое замыкание, обрыв, утечку или неправильное соединение 31/02; контрольные вычислительные устройства G 06F 11/00; контроль правильности работы запоминающих устройств или испытание запоминающих устройств в режиме ожидания или в автономном режиме работы G 11C 29/00 |