Патент №2515009 - Способ определения коэффициента неоднородности смеси трудноразделимых сыпучих материалов
Изобретение предназначено для применения в химической промышленности, агропромышленном комплексе, производстве строительных материалов и других отраслях. Способ определения коэффициента неоднородности смеси трудноразделимых сыпучих материалов включает подсчет числа проб, минимально допустимого веса пробы, отбор проб смеси и ее компонентов. Пробы распределяют равномерным слоем на гладкой поверхности и фотографируют, проводят попиксельный анализ изображений смешиваемых компонентов с получением гистограмм распределения пикселей изображения по оттенкам серого в отношении к их общему количеству и затем определяют пороговый оттенок. Далее определяют значения концентраций ключевого компонента в пробах смеси как отношения количества пикселей, ему соответствующих, к общему количеству пикселей изображения пробы и рассчитывают коэффициент неоднородности смеси. При вычислении значения порогового оттенка находят координаты центров тяжести площадей гистограмм распределения пикселей компонентов смеси и присваивают пороговому оттенку значение, соответствующее абсциссе середины отрезка между центрами тяжестей площадей гистограмм. Достигаемый при этом технический результат заключается в создании простого и достаточно точного способа определения коэффициента неоднородности смеси трудноразделимых компонентов с минимальными затратами времени (экспресс-метод). 1 ил.
Классификация патента
Код | Наименование |
---|---|
МПК G01N 1/28 | Получение и подготовка образцов для исследования - подготовка образцов для исследованиякрепление образцов на предметном стекле микроскопа G 02B 21/34; средства для крепления в электронных микроскопах исследуемых объектов или материалов H 01J 37/20 |
МПК G01N 11/00 | Исследование свойств текучих сред, например определение вязкости, пластичности; анализ материалов путем определения их текучести |
МПК G06T 7/60 | Анализ изображения, например из побитового к непобитовому изображению - анализ геометрических признаков, например площади, центра тяжести, периметра, из изображения |