Патент №2521789 - Способ определения теплового импеданса сверхбольших интегральных схем - микропроцессоров и микроконтроллеров

Способ предназначен для использования на выходном и входном контроле качества сверхбольших интегральных схем (СБИС) - микропроцессоров и микроконтроллеров - и оценки их температурных запасов. В контролируемую СБИС, установленную на теплоотводе и подключенную к источнику питания, загружают специальный "разогревающий" тест и программу управления и включают в режим периодического нагрева путем переключения контролируемой СБИС из режима выполнения специального теста в режим паузы с частотой и скважностью 2. На частоте модуляции выделяют и измеряют амплитуду первой гармоники тока, потребляемого контролируемой СБИС, амплитуду первой гармоники температурочувствительного параметра с известным отрицательным температурным коэффициентом KT , например, напряженияна встроенном в ядро СБИС р-n переходе или напряжениялогической единицы на одном из нагруженных резистивной нагрузкой выводов СБИС, логическое состояние которого не изменяется при переключении СБИС из одного режима в другой, и сдвиг фазы ( ) между первой гармоникой тока, потребляемого контролируемой СБИС, и первой гармоникой температурочувствительного параметра. Модуль теплового импеданса контролируемой СБИС на частоте определяют по формуле: ,где Uпит - напряжение питания контролируемой БИС, а фазу T( ) теплового импеданса контролируемой СБИС определяют как уменьшенную на 180° разность фаз между первой гармоникой температурочувствительного параметра и первой гармоникой тока, потребляемого контролируемой СБИС. 2 ил.