Патенты автора — Короткевич А.В.
Страна - Россия (RU), количество патентов - 5, получены - 1991-2012
- G01 – Измерение
- H01 – Основные элементы электрического оборудования
| № | Компания | Патенты |
|---|---|---|
| 1 | ЗАО "Телеком-СТВ" | 4 |
- Способ контроля дефектности эпитаксиальных слоев кремния на диэлектрических подложках
Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к неразрушающим методам контроля структурного совершенства эпитаксиальных слоев кремния, выращенных на диэлектрических подложках, и может быть использовано в технологии микроэлектроники...
- Способ определения вольтамперных характеристик солнечных элементов на симуляторе солнечного излучения
Изобретение области измерений электрофизических параметров солнечных элементов на основе применения устройств, позволяющих имитировать (симулировать) реальное солнечное излучение искусственными источниками света вместе с необходимой и встроенной в...
- Симулятор солнечного излучения для измерения параметров солнечных элементов
Предложенное изобретение относится к области измерительной техники, а именно к области измерений электрофизических параметров солнечных элементов на основе применения устройств, позволяющих имитировать реальное солнечное излучение искусственными...
- Устройство для измерения времени жизни неосновных носителей заряда в полупроводниках
Предложенное изобретение относится к области измерительной техники, а именно к области измерений электрофизических параметров полупроводниковых материалов с использованием зондирующего электромагнитного излучения высокой частоты, и может быть...
- Способ бесконтактного определения характеристик кремниевых пластин с внутренним геттером
Использование: изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано для контроля качества подготовки кремниевых пластин с внутренним оксидным геттером. Сущность изобретения: способ позволяет контролировать ширину приповерхностной...