Патенты Институт физики полупроводников СО Российской академии наук
Страна - Россия (RU), количество патентов - 45, получены - 2004-2008 , коллектив авторов - 72 человека.
- B01 – Способы и устройства общего назначения для осуществления различных физических и химических процессов
- B81 – Микроструктурные технологии
- C25 – Электролитические способы; электрофорез; устройства для них
- G01 – Измерение
- G02 – Оптика
- G11 – Накопление информации
- H01 – Основные элементы электрического оборудования
- H03 – Электронные схемы общего назначения
- Способ изготовления ступенчатого высотного калибровочного стандарта для профилометрии и сканирующей зондовой микроскопии
Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для усовершенствования работы инструментов, измеряющих высоту рельефа поверхности, и для сертификации высотных стандартов. Сущность изобретения: в способе изготовления ступенчатого высотного...
- Способ ионизации атомарных или молекулярных потоков и устройство для его осуществления
Изобретение относится к электронике и может быть использовано для ионизации атомарных или молекулярных потоков и формирования ионных пучков в полупроводниковой технологии в области молекулярно-лучевой эпитаксии. Способ ионизации включает многократную...
- Флэш элемент памяти электрически перепрограммируемого постоянного запоминающего устройства
Изобретение относится к вычислительной технике. Сущность изобретения: флэш элемент памяти электрически перепрограммируемого постоянного запоминающего устройства предназначен для хранения информации при отключенном питании. На полупроводниковой подложке...
- Способ изготовления структуры кремний на изоляторе
Изобретение относится к полупроводниковой технологии и может быть использовано для изготовления приборных структур. Сущность изобретения: в способе изготовления структуры кремний на изоляторе на поверхности подложки формируют изолирующий слой и...
- Устройство для определения пористых характеристик тонких слоев (варианты)
Устройство для определения пористых характеристик тонких слоев относится к микроэлектронике, катализу, биохимии. Устройство содержит поляризатор и анализатор быстродействующего лазерного эллипсометра. Также устройство содержит столик для крепления...
- Способ формирования висящих конструкций
Способ относится к технологии микроструктурных устройств и полупроводниковых приборов и может быть использован для формирования мембран при изготовлении многоэлементных микромеханических преобразователей. Сущность изобретения: в способе формирования...
- Способ анализа трения с использованием атомно-силовой микроскопии и устройство для его осуществления
Способ анализа трения с использованием атомно-силовой микроскопии и устройство для его осуществления могут быть использованы для исследования трибологических свойств поверхностей в нанометровом масштабе. Изобретение направлено на упрощенное...
- Многоконтактное гибридное соединение
Многоконтактное гибридное соединение предназначено для группового механического и/или электрического соединения функциональных устройств микроэлектроники и микромеханики, размещенных на разных подложках. В контактном соединении выполнены расположенные...
- Флэш элемент памяти электрически перепрограммируемого постоянного запоминающего устройства
Флэш элемент памяти электрически перепрограммируемого постоянного запоминающего устройства предназначен для хранения информации при отключенном питании. На полупроводниковой подложке с истоком и стоком между последними выполнены туннельный слой,...
- Многоканальное устройство считывания для фотоприемников
Изобретение относится к интегральной микроэлектронике и предназначено для предпроцессорной обработки фотосигналов. Сущность изобретения: в многоканальном устройстве считывания для фотоприемников, содержащем N канальную систему считывания, измерительную...