Патент №2006006 - Устройство для спектроскопических исследований окрашенных твердых материалов
Использование: анализ материалов с помощью оптических методов с одновременным локальным измерением температуры поверхности исследуемого объекта. Сущность изобретения: устройство содержит источник излучения (лазер), оптическую систему и кювету для размещения пробы, выполненную с окном из кристалла с люминесцентными свойствами. В качестве кристалла использован алмаз в форме усеченной пирамиды, которая обращена внутрь кюветы своим большим основанием. На этом основании пирамиды образована рабочая люминесцентная зона размером не более 0,50,5, являющаяся датчиком температуры. Диапазон измерения температуры составляет 45 - 200 К. 3 ил.
Классификация патента
Код | Наименование |
---|---|
МПК G01K 11/00 | Измерение температуры термометрами, действие которых основано на изменении физических или химических свойств веществ в зависимости от температуры, не отнесенными к группам 3/00, 5/00, 7/00 или 9/00 |
МПК G01N 21/00 | Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей |